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X熒光光譜儀是根據(jù)X射線滎光光譜的分析方法配置的多通道X射線熒光光譜儀，它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。X射線熒光(XRF)能夠測(cè)定周期表中多達(dá)83個(gè)元素所組成的各種形式和性質(zhì)的導(dǎo)體或非導(dǎo)體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質(zhì)物料等。凡是能和x射線發(fā)生激烈作用的樣品都不能分析，而且要分析的樣品必須是在真空(4~5pa)環(huán)境下才能測(cè)定。X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管通過(guò)產(chǎn)生入射X射線(一次X射線...

ROHS環(huán)保測(cè)試儀采用新型的光路設(shè)計(jì)，max限度解決了光路對(duì)測(cè)量Cl元素的負(fù)面影響，保證了氯(Cl)元素的檢出下限和穩(wěn)定性。融合了一系列的光譜處理方法，包括FFT(快速傅立葉變換濾波)、的背景扣除方法、自動(dòng)尋峰和Quasi-Newton(準(zhǔn)牛頓)優(yōu)化算法等;優(yōu)化的V8.0分析軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動(dòng)設(shè)定光管功率，既能延長(zhǎng)光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測(cè)器性能，大幅提高測(cè)量精度。用于RoHS指令管控的產(chǎn)品：大型家電、小型家電、信息技術(shù)及通訊設(shè)備、電動(dòng)工具、玩具等設(shè)備Ux-...

ROHS鹵素檢測(cè)儀作為檢測(cè)和幫助排查鹵素氣體泄露情況的重要儀器，該儀器正被物盡其用地運(yùn)用在各個(gè)領(lǐng)域之中。儀器具有手持、小巧便捷等特點(diǎn)，誠(chéng)信的鹵素檢測(cè)儀可以有效幫助檢測(cè)出產(chǎn)品或者環(huán)境中的鹵素氣體。如此重要的工作輔助儀器，當(dāng)然需要好好保養(yǎng)，接下來(lái)告訴大家一些ROHS鹵素檢測(cè)儀維護(hù)保養(yǎng)的方法。下面讓我們一起來(lái)了解一下吧：1、維護(hù)儀器的清潔精密性?xún)x器的衛(wèi)生非常重要，需要時(shí)時(shí)保持。平日的使用過(guò)程中不要將鹵素檢測(cè)儀放置在衛(wèi)生環(huán)境差、有很多粉塵碎屑的地方;因?yàn)檫@樣可能會(huì)導(dǎo)致雜物侵入機(jī)器內(nèi)部...

ROHS鹵素檢測(cè)儀在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級(jí)的需求，特別設(shè)計(jì)該款。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測(cè)試效率。是一款經(jīng)濟(jì)、實(shí)用、操作簡(jiǎn)便的X射線熒光光譜儀;對(duì)鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、溴(Br)、氯(Cl))等元素有很好的檢測(cè)下限以及精度。下面讓我們一起來(lái)了解一下ROHS鹵素檢測(cè)儀的注意事項(xiàng)吧要注意測(cè)量使用的環(huán)境在測(cè)定水分過(guò)程中，要注意保證工作臺(tái)穩(wěn)定，忌在水分測(cè)定儀前方有流動(dòng)的風(fēng)及...

使用鍍層測(cè)厚儀與使用其他儀器一樣，既要掌握儀器性能，也需了解測(cè)試條件。使用磁性原理和渦流原理的鍍層測(cè)厚儀都是基于被測(cè)基體的電、磁特性及與探頭的距離來(lái)測(cè)量覆層厚度的。所以，被測(cè)基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測(cè)量值的可靠性，下面就這方面的問(wèn)題作一下介紹。1.邊界間距如果探頭與被測(cè)體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規(guī)定的邊界間距，由于磁通或渦流載體截面不夠?qū)?dǎo)致測(cè)量誤差。如必須測(cè)量該點(diǎn)的覆層厚度，只有預(yù)先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準(zhǔn)，才...

可能會(huì)影響到EXF鍍層測(cè)厚儀測(cè)量結(jié)果的因素有哪些你知道么?下面讓我們來(lái)了解一下吧。影響測(cè)量結(jié)果因素的有關(guān)說(shuō)明1.基體金屬磁性質(zhì)磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。2.基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。3...

XRF鍍層測(cè)厚儀主要用于測(cè)量金屬材料的涂層厚度。但是，由于測(cè)量對(duì)象、測(cè)量方法、測(cè)量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引入了大量的測(cè)量誤差，為了保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，有必要進(jìn)行不確定性分析。XRF鍍層測(cè)厚儀可同時(shí)測(cè)量磁性基材表面的非磁性涂層(如鋼鐵)(如油漆、陶瓷、鉻等)和非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電涂層(如油漆等)。儀器內(nèi)置高精度集成探頭，可通過(guò)電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)自動(dòng)檢測(cè)襯底性能和鍍層厚度，并可通過(guò)晶格液晶快速顯示結(jié)果。同時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)可以成組保存，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可以實(shí)時(shí)顯示。用戶(hù)可為每組設(shè)...

ROHS分析儀主要針對(duì)塑膠，電子產(chǎn)品，粉末，電器類(lèi)等產(chǎn)品的有害物質(zhì)中的Pb、Hg、Cd、Cr、Br、Cl元素的檢測(cè)。使用X射線熒光光譜法(XRF)可對(duì)鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、溴(Br)等元素進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)試。下面讓我們一起來(lái)了解一下ROHS分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)(測(cè)試對(duì)像：粉未、固體、液體)1、從鋁(Al)到鈾(U)的快速元素分析;2、檢測(cè)靈敏度0.01%到99.99%;3、測(cè)量時(shí)間短，每個(gè)測(cè)量只需60-300秒。4、500萬(wàn)像素，實(shí)體10-30倍彩色CCD系統(tǒng)用...